下面進(jìn)行寫(xiě)入測(cè)試，由于不同軟件測(cè)試的算法，測(cè)試方式不盡相同。和HD Tach相比，這款軟件的固態(tài)硬盤(pán)寫(xiě)入測(cè)試曲線可能會(huì)出現(xiàn)非常大的波動(dòng)幅度。但并不代表著這款硬盤(pán)的性能穩(wěn)定性十分不可靠。

    希捷Barracuda 7200.12 1TB測(cè)試成績(jī)

    希捷Barracuda LP 2TB測(cè)試成績(jī)

    機(jī)械硬盤(pán)的讀寫(xiě)性能差距其實(shí)不大，因?yàn)閷?xiě)入數(shù)據(jù)時(shí)，通過(guò)接受的電脈沖信號(hào)，磁頭直接改變磁粒子的方向，達(dá)成改變0或1的狀態(tài)。這一過(guò)程相當(dāng)短暫，與讀操作正好相反。

    金士頓SNV125-S2/30GB測(cè)試成績(jī)

    金士頓SNV425-S2/64GB測(cè)試成績(jī)

    64GB的版本的測(cè)試成績(jī)和HD Tach差異較高，這種情況其實(shí)非常正常，畢竟我們不能夠以某一款測(cè)試軟件的結(jié)果來(lái)衡量最終的真實(shí)性能。不過(guò)固態(tài)硬盤(pán)在隨機(jī)存取方面的絕對(duì)優(yōu)勢(shì)，我們非常期待它的實(shí)際應(yīng)用性能的表現(xiàn)。

    同樣沒(méi)有進(jìn)行RAID 0模式下的寫(xiě)入性能測(cè)試，但我們可以看出此時(shí)30GB固態(tài)硬盤(pán)的持續(xù)寫(xiě)入性能已經(jīng)較低，這和當(dāng)前市售廉價(jià)小容量固態(tài)硬盤(pán)的水平相當(dāng)。